HAST老化試驗箱(Highly Accelerated Stress Test Chamber)是一種用于模擬加速老化環(huán)境的實驗室設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子元器件、半導(dǎo)體芯片、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)產(chǎn)品的加速老化壽命試驗，通過模擬高溫、高濕和高壓(有時還包括偏置電壓)的特殊環(huán)境，加速被測樣品的老化過程，以在短時間內(nèi)評估其性能和耐久性。這種測試方法能夠模擬產(chǎn)品在長時間使用中的老化情況，幫助生產(chǎn)商提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
 

　　壓力范圍：在受控的壓力容器內(nèi)增加大氣壓力，通常可達(dá)到3atm或更高，以實現(xiàn)超過100℃的溫濕度控制。這種壓力的增加可以加速溫濕度對材料的老化效果。
 

　　偏置電壓(bHAST)：在某些試驗中，除了高溫、高濕和高壓條件外，還會對樣品施加偏置電壓，模擬實際使用中的電應(yīng)力。
 

　　HAST老化試驗箱特點：
 

　　優(yōu)化設(shè)計：美觀大方，做工精細(xì)，符合工業(yè)安全標(biāo)準(zhǔn)。
 

　　準(zhǔn)確控制：采用控制器和傳感器，實現(xiàn)溫度、濕度和壓力的準(zhǔn)確控制。
 

　　高效循環(huán)：采用風(fēng)葉強(qiáng)制對流循環(huán)方式，確保箱內(nèi)溫濕度均勻分布。
 

　　安全保護(hù)：具備超溫、超壓、缺水等多種安全保護(hù)措施，確保試驗過程安全可靠。
 

　　靈活定制：可根據(jù)客戶需求定制專用產(chǎn)品架和試驗參數(shù)，滿足不同產(chǎn)品的測試需求。

 

　　HAST老化試驗箱的使用過程：
 

　　準(zhǔn)備階段：將試驗箱放置在安全穩(wěn)定的臺面上，接通電源并打開電源開關(guān)。
 

　　設(shè)置參數(shù)：根據(jù)需要設(shè)置試驗參數(shù)，如溫度、濕度、工作時間等。
 

　　放置樣品：打開試驗箱門，將待測試的樣品放入箱內(nèi)，并確保樣品之間有足夠的間隔。
 

　　開始試驗：關(guān)閉試驗箱門并啟動試驗程序，試驗箱將按照設(shè)定的參數(shù)開始工作。
 

　　監(jiān)測試驗：在試驗過程中定期檢查試驗箱的工作狀態(tài)和數(shù)據(jù)記錄情況。
 

　　結(jié)束試驗：當(dāng)試驗時間到達(dá)設(shè)定值后，試驗箱將自動停止工作。此時可以打開試驗箱門取出樣品并進(jìn)行后續(xù)處理。
 

　　使用注意事項：
 

　　確保試驗箱周圍的通風(fēng)良好以防止過熱或氧氣不足。
 

　　遵守安全操作規(guī)程以避免觸電或燙傷等安全事故的發(fā)生。
 

　　定期檢查和維護(hù)試驗箱以確保其正常運(yùn)行和延長使用壽命。
 

　　在試驗過程中注意觀察和記錄數(shù)據(jù)以便后續(xù)分析和改進(jìn)。